Характеристики: диапазон сканирования, нм — 200–1000; шаг сканирования, нм — 1; диапазон измерения оптической плотности, А — 0-4; точность при 490 нм в диапазоне 0–3 ОЕ при однолучевом сканировании, % — 1; формат — 96-, 384- и 1536-луночные планшеты, кювета; фотометрический метод — одно- или двухволновый; источник света — ксеноновая импульсная лампа;время считывания 96-/384-/1536-луночного планшета, с — 9/15/35; диапазон термостатирования, °С — +25-45; таймер, с — 0-999; тип встряхивания — линейное или орбитальное; скорость перемешивания — высокая, средняя, низкая, ручная установка; ПО Microplate Manager; возможность работать с образцами низкой и высокой оптической плотности; предоставление валидационных протоколов IQ/OQ. управление через ПК, USB-порт; габариты, Ш × В × Г, см — 54,4 × 21,9 × 44;масса, кг — 27,5. Комплект поставки: анализатор, ПО Microplate Manager 6, USB-кабель, сетевой кабель, пылезащитный чехол, 2 запасных предохранителя.